XPS-characterisation of surface functionalized materials via (hetero) Diels-Alder chemistry

Trouillet, V.; Barner-Kowollik, C.; Barner, L.; Blinco, J.; Gerstel, P.; Gliemann, H.; Goldmann, A. S.; Hübner, C.; Tischer, T.; Zydziak, N.; Bruns, M.

XPS-characterisation of surface functionalized materials via (hetero) Diels-Alder chemistry

Trouillet, V.; Barner-Kowollik, C.; Barner, L.; Blinco, J.; Gerstel, P.; Gliemann, H.; Goldmann, A. S.; Hübner, C.; Tischer, T.; Zydziak, N.; Bruns, M.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffprozesstechnik (IAM-WPT)
Publikationstyp	Poster
Publikationsjahr	2011
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 220084533
HGF-Programm	43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect.
Erscheinungsvermerk	KNMF (Karlsruhe Nano Micro Facility) User Meeting, Karlsruhe, October 13-14, 2011

Repository KITopen

XPS-characterisation of surface functionalized materials via (hetero) Diels-Alder chemistry