KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

XPS-characterisation of surface functionalized materials via (hetero) Diels-Alder chemistry

Trouillet, V.; Barner-Kowollik, C.; Barner, L.; Blinco, J.; Gerstel, P.; Gliemann, H.; Goldmann, A.S.; Hübner, C.; Tischer, T.; Zydziak, N.; Bruns, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffprozesstechnik (IAM-WPT)
Publikationstyp Poster
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220084533
HGF-Programm 43.16.02; LK 02
Erscheinungsvermerk KNMF (Karlsruhe Nano Micro Facility) User Meeting, Karlsruhe, October 13-14, 2011
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page