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Electron tomography of nanoparticles in Zn-doped GaAs semiconductors

Kübel, C.; Dieker, Ch.; Esser, D.; Penkalla, H.J.; Jäger, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Poster
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220084579
HGF-Programm 43.16.02; LK 02
Erscheinungsvermerk Microscopy Conf.2011 (MC 2011), Kiel, August 28 - September 2, 2011
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