Electron tomography of nanoparticles in Zn-doped GaAs semiconductors
Kübel, C.
; Dieker, Ch.; Esser, D.; Penkalla, H. J.; Jäger, W.
; Dieker, Ch.; Esser, D.; Penkalla, H. J.; Jäger, W.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Poster |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 220084579 |
| HGF-Programm | 43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect. |
| Erscheinungsvermerk | Microscopy Conf.2011 (MC 2011), Kiel, August 28 - September 2, 2011 |