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About strain homogeneity at HPT in ufg and nc Pd

Kurmanaeva, L.; Weis, A.; Kuebel, C.; Chassaing, D.; Ivanisenko, Y.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Poster
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220086279
HGF-Programm 43.12.01; LK 01
Erscheinungsvermerk TMS 141st Annual Meeting and Exhibition, Orlando, Fla., March 11-15, 2012
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