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XPS characterization of iron/fluorine co-doped BST thin films for tunable microwave applications

Stemme, F.; Geßwein, H.; Binder, J. R.; Bruns, M.


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/220088357
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffprozesstechnik (IAM-WPT)
Publikationstyp Poster
Publikationsjahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 220088357
HGF-Programm 43.12.02 (POF II, LK 01) Tuneable properties of nanomaterials
Erscheinungsvermerk 4th ANKA/KNMF Joint User Meeting, Ettlingen, October 10-11, 2012
Externe Relationen Abstract/Volltext
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