KIT | KIT-Bibliothek | Impressum
Open Access Logo

XPS characterization of iron/fluorine co-doped BST thin films for tunable microwave applications

Stemme, F.; Geßwein, H.; Binder, J.R.; Bruns, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffprozesstechnik (IAM-WPT)
Publikationstyp Poster
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220088357
HGF-Programm 43.12.02; LK 01
Erscheinungsvermerk 4th ANKA/KNMF Joint User Meeting, Ettlingen, October 10-11, 2012
URLs Abstract (PDF)
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page