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Mikrostrukturelle Untersuchungen am Transmissions-Elektronen-Mikroskop

Jäntsch, U.; Klimenkov, M.; Rieth, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Poster
Jahr 2012
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 220088377
HGF-Programm 31.40.03; LK 01
Erscheinungsvermerk 46. Metallographie-Tagung der Deutschen Gesellschaft für Materialkunde. Rostock, 19.-21.September 2012
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