Mikrostrukturelle Untersuchungen am Transmissions-Elektronen-Mikroskop

Jäntsch, U.; Klimenkov, M.

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DOI: 10.5445/IR/220088377

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp	Poster
Publikationsjahr	2012
Sprache	Deutsch
Identifikator	KITopen-ID: 220088377
HGF-Programm	31.40.03 (POF II, LK 01) Materialentwicklung
Erscheinungsvermerk	46. Metallographie-Tagung der Deutschen Gesellschaft für Materialkunde. Rostock, 19.-21.September 2012