Mikrostrukturelle Untersuchungen am Transmissions-Elektronen-Mikroskop
Jäntsch, U.; Klimenkov, M.
; Rieth, M.
; Rieth, M.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP) |
| Publikationstyp | Poster |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 220088377 |
| HGF-Programm | 31.40.03 (POF II, LK 01) Materialentwicklung |
| Erscheinungsvermerk | 46. Metallographie-Tagung der Deutschen Gesellschaft für Materialkunde. Rostock, 19.-21.September 2012 |