KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

XPS-characterization of surface modified epoxide microspheres

Vogt, A.P.; Kaupp, M.; Trouillet, V.; Greiner, A.M.; Geckle, U.; Barner, L.; Hofe, T.; Barner-Kowollik, C.

Open Access Logo


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/220088387
Seitenaufrufe: 2
seit 28.04.2018
Downloads: 1203
seit 23.08.2016
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Publikationstyp Poster
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 220088387
HGF-Programm 43.16.02 (POF II, LK 02)
Erscheinungsvermerk 17.Arbeitstagung Angewandte Oberflächenanalytik (AOFA 17), Soest, 24.-26.September 2012
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page