XPS-characterization of surface modified epoxide microspheres

Vogt, A. P.; Kaupp, M.; Trouillet, V.; Greiner, A. M.; Geckle, U.; Barner, L.; Hofe, T.; Barner-Kowollik, C.

Volltext

DOI: 10.5445/IR/220088387

Seitenaufrufe: 56
seit 28.04.2018

Downloads: 2493
seit 23.08.2016

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Materialien – Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Publikationstyp	Poster
Publikationsjahr	2012
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 220088387
HGF-Programm	43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect.
Erscheinungsvermerk	17.Arbeitstagung Angewandte Oberflächenanalytik (AOFA 17), Soest, 24.-26.September 2012