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XPS-characterization of surface modified epoxide microspheres

Vogt, A.P.; Kaupp, M.; Trouillet, V.; Greiner, A.M.; Geckle, U.; Barner, L.; Hofe, T.; Barner-Kowollik, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Publikationstyp Poster
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220088387
HGF-Programm 43.16.02; LK 02
Erscheinungsvermerk 17.Arbeitstagung Angewandte Oberflächenanalytik (AOFA 17), Soest, 24.-26.September 2012
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