XPS-characterization of surface modified epoxide microspheres

Vogt, A. P.; Kaupp, M.; Trouillet, V.; Greiner, A. M.; Geckle, U.; Barner, L.; Hofe, T.; Barner-Kowollik, C.

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DOI: 10.5445/IR/220088387

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Materialien – Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Publikationstyp	Poster
Publikationsjahr	2012
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 220088387
HGF-Programm	43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect.
Erscheinungsvermerk	17.Arbeitstagung Angewandte Oberflächenanalytik (AOFA 17), Soest, 24.-26.September 2012