XPS characterization of functionalized epoxid microparticles

Trouillet, V.; Vogt, A. P.; Kaupp, M.; Greiner, A. M.; Geckle, U.; Barner, L.; Hofe, T.; Barner-Kowollik, C.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Materialien – Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Publikationstyp	Poster
Publikationsjahr	2012
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 220088780
HGF-Programm	43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect.
Erscheinungsvermerk	4th ANKA/KNMF Joint User Meeting, Ettlingen, October 10-11, 2012
Externe Relationen	Abstract/Volltext