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Infrared reflection absorption spectroscopy for characterization of monolayers on ceramic surfaces

Stammer, X.; Heißler, S.; Wöll, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
Publikationstyp Poster
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220090724
HGF-Programm 43.12.01; LK 01
Erscheinungsvermerk Internat.Conf.for Optical Characterization of Materials, Karlsruhe, March 6-7, 2013
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