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Shallow trapped electron states and related processes of TiO₂ probing with UHV-IRRAS

Sezen, H.; Natzeck, C.; Yang, C.; Nefedov, A.; Wöll, C.

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/220090743
Coverbild
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
Publikationstyp Poster
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 220090743
HGF-Programm 43.11.03 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk Frühjahrstagung DPG, Sektion Kondensierte Materie, Fachverband Oberflächenphysik, Regensburg, 10.-15. März 2013 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.48(2013), O 36.87
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