Test of by-pass diodes at cryogenic temperatures for the KATRIN magnets

Gil, W.; Bolz, H.; Jansen, A.; Müller, K.; Steidl, M.; Hagedorn, D.

Seitenaufrufe: 76
seit 23.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp	Poster
Publikationsjahr	2013
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 220090811
HGF-Programm	51.54.01 (POF II, LK 02) Großgerät: KATRIN
Erscheinungsvermerk	Cryogenic Engineering Conf.and Internat.Cryogenic Materials Conf. (CEC-ICMC), Anchorage, Alaska, June 17-21, 2013