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Test of by-pass diodes at cryogenic temperatures for the KATRIN magnets

Gil, W.; Bolz, H.; Jansen, A.; Müller, K.; Steidl, M.; Hagedorn, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Poster
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220090811
HGF-Programm 51.54.01; LK 02
Erscheinungsvermerk Cryogenic Engineering Conf.and Internat.Cryogenic Materials Conf. (CEC-ICMC), Anchorage, Alaska, June 17-21, 2013
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