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Joule heating and current-density profiles during electromigration controled gap formation in nanostructures

Kiessig, B.; Schäfer, R.; Löhneysen, H.von



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Festkörperphysik (IFP)
Publikationstyp Poster
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220091125
HGF-Programm 43.11.02; LK 01
Erscheinungsvermerk Frühjahrstagung DPG, Sektion Kondensierte Materie, Fachverband Tiefe Temperaturen, Regensburg, 10.-15. März 2013 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.48(2013), TT 58.13
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