KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Self-sensing atomic force microscopy cantilevers based on magneto resistance

Meier, T.; Tavassolizadeh, A.; Rott, K.; Reiss, G.; Quandt, E.; Meyners, D.; Hölscher, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Poster
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220091470
HGF-Programm 43.13.01; LK 01
Erscheinungsvermerk 4th International Workshop on Advanced Atomic Force Microscopy Techniques, Karlsruhe, March 4-5, 2013
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page