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Self-sensing atomic force microscopy cantilevers based on magneto resistance

Meier, T.; Tavassolizadeh, A.; Rott, K.; Reiss, G.; Quandt, E.; Meyners, D.; Hölscher, H. ORCID iD icon


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Poster
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 220091470
HGF-Programm 43.13.01 (POF II, LK 01) Structuring
Erscheinungsvermerk 4th International Workshop on Advanced Atomic Force Microscopy Techniques, Karlsruhe, March 4-5, 2013
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