ToF-SIMS and XPS characterization of R.F. magnetron sputtered Li-Mn-O thin films for Li-ion batteries
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP) Institut für Angewandte Materialien – Energiespeichersysteme (IAM-ESS) |
| Publikationstyp | Poster |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 220092827 |
| HGF-Programm | 43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect. |
| Erscheinungsvermerk | 15th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA 2013), Cagliari, I, October 13-18, 2013 |