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ToF-SIMS and XPS characterization of R.F. magnetron sputtered Li-Mn-O thin films for Li-ion batteries

Bruns, M.; Fischer, J.; Ehrenberg, H.; Seifert, H.J.; Ulrich, S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Institut für Angewandte Materialien - Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Publikationstyp Poster
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220092827
HGF-Programm 43.16.02; LK 02
Erscheinungsvermerk 15th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA 2013), Cagliari, I, October 13-18, 2013
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