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XPS and ToF-SIMS sputter depth profiling of OLEDs using Ar-cluster ion sources

Bruns, M.; Peters, K.; Nunney, T.; Tallarek, E.; Kayser, S.; Hummel, H.; Scharfer, P.; Schabel, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Publikationstyp Poster
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220093058
HGF-Programm 43.16.02; LK 02
Erscheinungsvermerk American Vacuum Society 60th International Symposium, Long Beach, Calif., October 27 - November 1, 2013
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