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Probing shallow trapped electrons of TiO₂ with UHV-IRRAS

Sezen, H.; Natzeck, C.; Nefedov, A.; Wöll, C.

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/220094745
Coverbild
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
Publikationstyp Poster
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 220094745
HGF-Programm 43.11.03 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk Bunsentagung 2013: 112. Hauptversammlung der Deutschen Bunsen-Gesellschaft für Physikalische Chemie e.V., Karlsruhe, 9.-11.Mai 2013
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