KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz
Open Access Logo

Probing shallow trapped electrons of TiO₂ with UHV-IRRAS

Sezen, H.; Natzeck, C.; Nefedov, A.; Wöll, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
Publikationstyp Poster
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220094745
HGF-Programm 43.11.03; LK 01
Erscheinungsvermerk Bunsentagung 2013: 112. Hauptversammlung der Deutschen Bunsen-Gesellschaft für Physikalische Chemie e.V., Karlsruhe, 9.-11.Mai 2013
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page