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Probing shallow trapped electrons of TiO₃ with UHV-IRRAS

Sezen, H.; Buchholz, M.; Natzeck, C.; Nefedov, A.; Heissler, S.; de Valentin, C.; Wöll, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
Publikationstyp Poster
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220094975
HGF-Programm 43.11.03; LK 01
Erscheinungsvermerk 9th International Workshop on Oxide Surfaces (IWOX-IX), Tahoe City, Calif., January 5-10, 2014
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