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Probing shallow trapped electrons of TiO₃ with UHV-IRRAS

Sezen, H.; Buchholz, M.; Natzeck, C.; Nefedov, A.; Heissler, S.; de Valentin, C.; Wöll, C.

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/220094975
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
Publikationstyp Poster
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 220094975
HGF-Programm 43.11.03 (POF II, LK 01) Molecular building blocks
Erscheinungsvermerk 9th International Workshop on Oxide Surfaces (IWOX-IX), Tahoe City, Calif., January 5-10, 2014
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