Characterization of stitched gratings using moire fringe analysis

Schüttler, M.; Willner, M.; Hipp, A.; Schlede, S.; Meiser, J.; Hermwille, M.; Mohr, J.; Pfeiffer, F.

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seit 12.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Poster
Publikationsjahr	2014
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 220095489
HGF-Programm	43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics
Erscheinungsvermerk	International Workshop on X-ray and Neutron Phase Imaging with Gratings (XNPIG), Garmisch-Partenkirchen, January 21-24, 2014 Book of Abstracts