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Characterization of stitched gratings using moire fringe analysis

Schüttler, M.; Willner, M.; Hipp, A.; Schlede, S.; Meiser, J.; Hermwille, M.; Mohr, J.; Pfeiffer, F.



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seit 12.05.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Poster
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 220095489
HGF-Programm 43.14.02 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk International Workshop on X-ray and Neutron Phase Imaging with Gratings (XNPIG), Garmisch-Partenkirchen, January 21-24, 2014 Book of Abstracts
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