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XPS Charakterisierung von Graphitanoden aus Lithium-Ionen Batterien

Winkler, V.; Hanemann, T.; Bruns, M.

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DOI: 10.5445/IR/220097894
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seit 12.05.2018
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seit 31.10.2016
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffprozesstechnik (IAM-WPT)
Institut für Angewandte Materialien - Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Publikationstyp Poster
Jahr 2014
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 220097894
HGF-Programm 43.15.02 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk 18.Arbeitstagung Angewandte Oberflächenanalytik (AOFA), Kaiserslautern, 29.September - 1.Oktober 2014
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