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High energy resolution X-ray absorption near edge structure spectroscopy investigations of highly active genuine VEK glass

Bahl, S.; Koldeisz, V.; Pidchenko, I.; Prüßmann, T.; Rothe, J.; Roth, G.; Kvashnina, K.; Geckeis, H.; Vitova, T.

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/220098627
Coverbild
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Entsorgung (INE)
Publikationstyp Poster
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 220098627
HGF-Programm 32.27.04 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk 6th ANKA/KNMF Joint User Meeting, Karlsruhe, October 13-14, 2014
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