Optical measurements of heat treated silica samples
Mazzocchi, F.
; Scherer, T.; Saavedra, R.; Martinez, P. M.
; Scherer, T.; Saavedra, R.; Martinez, P. M.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP) |
| Publikationstyp | Poster |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 220101929 |
| HGF-Programm | 31.03.05 (POF III, LK 01) Port- und Plant Engineering |
| Veranstaltung | 40th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz 2015), Hong Kong, China, August 23-28, 2015 |