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Optical measurements of heat treated silica samples

Mazzocchi, F. ORCID iD icon; Scherer, T.; Saavedra, R.; Martinez, P. M.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Poster
Publikationsjahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 220101929
HGF-Programm 31.03.05 (POF III, LK 01) Port- und Plant Engineering
Veranstaltung 40th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz 2015), Hong Kong, China, August 23-28, 2015
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