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Optical measurements of heat treated silica samples

Mazzocchi, F.; Scherer, T.; Saavedra, R.; Martinez, P.M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Poster
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220101929
HGF-Programm 31.30.04; LK 01
Erscheinungsvermerk 40th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz 2015), Hong Kong, China, August 23-28, 2015
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