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Optical method for improving the accuracy of intrinsic normal zone temperature measurements on thin film superconductors during recovery under load

Hellmann, S.; Noe, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Poster
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220102364
HGF-Programm 37.06.02; LK 01
Erscheinungsvermerk 24th International Conference on Magnet Technology (MT 2015), Seoul, Korea, October 18-23, 2015
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