Combined XRD and EXAFS study of Cr-Al-N gradient samples
Krause, B.
; Stüber, M.; Zimina, A.
; Trappen, M.; Steininger, R.; Ulrich, S.; Kotapati, S.; Mangold, S.; Ye, J.; Baumbach, T.
; Stüber, M.; Zimina, A.
; Trappen, M.; Steininger, R.; Ulrich, S.; Kotapati, S.; Mangold, S.; Ye, J.; Baumbach, T.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP) ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA) |
| Publikationstyp | Poster |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 220103282 |
| HGF-Programm | 43.22.01 (POF III, LK 01) Functionality by Design |
| Erscheinungsvermerk | 16th International Conference on X-Ray Absorption Fine Structure (XAFS16), Karlsruhe, August 23-28, 2015 |