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Combined XRD and EXAFS study of Cr-Al-N gradient samples

Krause, B.; Stüber, M.; Zimina, A.; Trappen, M.; Steininger, R.; Ulrich, S.; Kotapati, S.; Mangold, S.; Ye, J.; Baumbach, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA)
Publikationstyp Poster
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220103282
HGF-Programm 43.22.01; LK 01
Erscheinungsvermerk 16th International Conference on X-Ray Absorption Fine Structure (XAFS16), Karlsruhe, August 23-28, 2015
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