KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Robuste Erkennung von kombinierten Positions- und Identifizierungs-Mikromarkierungen

Förtsch, T.C.; Bojncic-Kninski, C.von; Khan, M.S.; Märkle, F.; Weber, L.K.; Fischer, A.; Münster, B.; Ridder, B.; Althuon, D.; Strifler, J.; Sedlmayr, M.; Bykovskya, V.; Popov, R.; Soehindrijo, M.; Breitling, F.; Löffler, F.F.; Nesterov-Müller, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Poster
Jahr 2015
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 220103454
HGF-Programm 47.01.03; LK 01
Erscheinungsvermerk MikroSystemTechnik Kongress 2015, Karlsruhe, 26.-28.Oktober 2015
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page