Rechnergestützte Schichtdickenbestimmung in der Ultramikrotomie basierend auf Weißlichtinterferenz
Spomer, W.; Hofmann, A.
; Gengenbach, U.; Bretthauer, G.
; Gengenbach, U.; Bretthauer, G.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Informatik (IAI) |
| Publikationstyp | Poster |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 220103476 |
| HGF-Programm | 43.22.03 (POF III, LK 01) Printed Materials and Systems |
| Erscheinungsvermerk | MikroSystemTechnik Kongress 2015, Karlsruhe, 26.-28.Oktober 2015 |