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Rechnergestützte Schichtdickenbestimmung in der Ultramikrotomie basierend auf Weißlichtinterferenz

Spomer, W.; Hofmann, A. ORCID iD icon; Gengenbach, U.; Bretthauer, G.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Poster
Publikationsjahr 2015
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 220103476
HGF-Programm 43.22.03 (POF III, LK 01) Printed Materials and Systems
Erscheinungsvermerk MikroSystemTechnik Kongress 2015, Karlsruhe, 26.-28.Oktober 2015
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