XPS, ToF-SIMS, and HIM characterization of functionalized 3D mesostructures fabricated by direct laser writing
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Energiespeichersysteme (IAM-ESS) Institut für Technische Chemie und Polymerchemie (ITCP) |
| Publikationstyp | Poster |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 220103770 |
| HGF-Programm | 49.02.07 (POF III, LK 02) XPS |
| Erscheinungsvermerk | AVS 62nd International Symposium and Exhibition, San Jose, Calif., October 18- 23, 2015 |