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XPS, ToF-SIMS, and HIM characterization of functionalized 3D mesostructures fabricated by direct laser writing

Bruns, M.; Schwaiger, R.; Nunney, T.S.; Quick, A.S.; Claus, T.; Richter, B.; Barner-Kowollik, C.

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DOI: 10.5445/IR/220103770
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seit 18.05.2018
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seit 14.07.2016
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Chemie und Polymerchemie (ITCP)
Institut für Angewandte Materialien - Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Publikationstyp Poster
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 220103770
HGF-Programm 49.02.07 (POF III, LK 02)
Erscheinungsvermerk AVS 62nd International Symposium and Exhibition, San Jose, Calif., October 18- 23, 2015
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