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Dislocation dynamics in sub-micron confinement: recent progress in Cu thin film plasticity

Dehm, Gerhard; Balk, T. John; Blanckenhagen, Burghard von; Gumbsch, Peter; Arzt, Eduard



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Zuverlässigkeit und Schadenskunde im Maschinenbau (IZBS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2002
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0044-3093
KITopen-ID: 2202002
Erschienen in Zeitschrift für Metallkunde
Verlag Carl Hanser Verlag
Band 93
Heft 5
Seiten 383-391
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