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Application of the shear cell technique to diffusivity measurements in melts of semiconducting compounds: Ga-Sb

Mueller-Vogt, German; Koessler, R.


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Physik – Kristall- und Materiallabor (KML)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1998
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 222998
Erscheinungsvermerk J. of cryst. growth 186 (1998) S. 511-519.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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