Untersuchungen von tiefen Störstellen mittels SCLC an Chlor-dotierten und undotierten CdTe Gasphasenkristallen
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Physik – Kristall- und Materiallabor (KML) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1998 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 223298 |
| Erscheinungsvermerk | In: Tagung der Deutschen Gesellschaft für Kristallwachstum und Kristallzüchtung (DGKK), Karlsruhe 1998. |