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Qualitätssicherung bei mikrostrukturierten Intraokularlinsen

Stork, Wilhelm; Wagner, Armin; Thurnay, T.; Mueller-Glaser, Klaus D.


BibTeX (UTF-8) BibTeX (ASCII) EndNote/Refer (.enw) RIS CSL-JSON ISI
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 1996
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 223396
Erschienen in Informationstechnik für Mikrosysteme, Stuttgart 1996
KIT – Die Universität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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