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The phi-integral method for x-ray residual stress measurements

Wagner, Christian Norbert; Eigenmann, Bernd; Boldrick, Michael Seal

Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Maschinenbau – Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1989
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 223889
Erscheinungsvermerk Advances in x-ray analys. 31 (1988) S. 181- 190.

Seitenaufrufe: 60
seit 16.05.2018
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