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The phi-integral method for x-ray residual stress measurements

Wagner, Christian Norbert; Eigenmann, Bernd; Boldrick, Michael Seal



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1989
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 223889
Erscheinungsvermerk Advances in x-ray analys. 31 (1988) S. 181- 190.
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