Phasenentfaltung bei streifengebenden optischen Messverfahren mit Hilfe eines verbesserten "simulated annealing" Verfahrens
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1999 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 224999 |
| Erscheinungsvermerk | In: Anspruch und Tendenzen in der experimentellen Strukturmechanik. GESA-Symposium 1999. Düsseldorf 1999. S. 113-118. (VDI-Berichte. 1463.) |