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Measurement of internal electrical properties in A.C.-PDP-like configurations using a novel measurement method

Roth, Markus; Neiger, Manfred



Zugehörige Institution(en) am KIT Lichttechnisches Institut (LTI)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 22742001
Erscheinungsvermerk In: Conference proceedings. 21st International Display Research Conference and 8th International Display Workshops, Asia Display / IDW ' 01 (SID), Nagoya, Japan 2001.
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