Measurement of internal electrical properties in A.C.-PDP-like configurations using a novel measurement method
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Lichttechnisches Institut (LTI) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 2001 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 22742001 |
| Erscheinungsvermerk | In: Conference proceedings. 21st International Display Research Conference and 8th International Display Workshops, Asia Display / IDW ' 01 (SID), Nagoya, Japan 2001. |