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Dielectric barrier discharges with steep voltage rise: mapping of atomic nitrogen in single filaments measured by laser-induced fluorescence spectroscopy

Lukas, C.; Spaan, M.; Schulz-von der Gathen, V.; Thomson, V.; Wegst, Ralf; Doebele, M.; Neiger, Manfred



Zugehörige Institution(en) am KIT Lichttechnisches Institut (LTI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0963-0252
KITopen ID: 22772001
Erschienen in Plasma Sources Science and Technology
Band 10
Heft 3
Seiten 445-450
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