Dielectric barrier discharges with steep voltage rise: mapping of atomic nitrogen in single filaments measured by laser-induced fluorescence spectroscopy

Lukas, C.; Spaan, M.; Schulz-von der Gathen, V.; Thomson, V.; Wegst, Ralf; Doebele, M.; Neiger, Manfred

Seitenaufrufe: 138
seit 13.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Lichttechnisches Institut (LTI)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2001
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 0963-0252 KITopen-ID: 22772001
Erschienen in	Plasma Sources Science and Technology
Verlag	Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band	10
Heft	3
Seiten	445-450