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Measured quality factor and intermodulation product of CPW resonators on silicon substrates with 100 nm wide niobium lines at 17 GHz and 4.2 K

Wuensch, Stefan; Scherer, Theo A.; Neuhaus, Manfred; Jutzi, Wilhelm; Weimann, T.; Niemeyer, Jürgen



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektrotechnische Grundlagen der Informatik (IEGI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0921-4534
KITopen-ID: 22802002
Erschienen in Physica C
Band 372/376
Seiten 478-481
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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