Measured quality factor and intermodulation product of CPW resonators on silicon substrates with 100 nm wide niobium lines at 17 GHz and 4.2 K
Wuensch, Stefan
1; Scherer, Theo A. 1; Neuhaus, Manfred 1; Jutzi, Wilhelm 1; Weimann, T.; Niemeyer, Jürgen
1 Universität Karlsruhe (TH)
1; Scherer, Theo A. 1; Neuhaus, Manfred 1; Jutzi, Wilhelm 1; Weimann, T.; Niemeyer, Jürgen1 Universität Karlsruhe (TH)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Elektrotechnische Grundlagen der Informatik (IEGI) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2002 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0921-4534, 1873-2143 KITopen-ID: 22802002 |
| Erschienen in | Physica / C |
| Verlag | North-Holland Publishing |
| Band | 372/376 |
| Seiten | 478-481 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Scopus Dimensions |