Rueckstreuungsuntersuchungen und elektrische Messungen am System Si-SiO₂-Phosphosilikatglas (PSG)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Kernphysik (IAK) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1972 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230005526 |
| Erscheinungsvermerk | Fruehjahrstagung Freudenstadt 1972, Sektion fuer Kristallkunde der Deutschen Mineralogischen Gesellschaft und Arbeitskreis Festkoerperphysik bei der DPG, Freudenstadt, 10.-15. April 1972. Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, Reih6, Bd 7(1972) |