Stereologie und Bildanalyse zur Eigenschaftsbestimmung von Werkstoffen
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1975 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230008758 |
| Erscheinungsvermerk | Internationales Symposium ueber Bildanalyse, Muenchen, 24.-25.September 1975 |