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Stereologie und Bildanalyse zur Eigenschaftsbestimmung von Werkstoffen

Ondracek, G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1975
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 230008758
Erscheinungsvermerk Internationales Symposium ueber Bildanalyse, Muenchen, 24.-25.September 1975
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