Determination of Implanted Carbon Profiles in NbC Single Crystals from Random Backscattering Spectra

Langguth, K. G.; Geerk, J.; Linker, G.; Meyer, O.

Seitenaufrufe: 57
seit 02.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Kernphysik (IAK)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	1975
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230008886
Erscheinungsvermerk	Internat. Conference on Ion Beam Surface Layer Analysis, Karlsruhe, September 15-19, 1975