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Determination of Implanted Carbon Profiles in NbC Single Crystals from Random Backscattering Spectra

Langguth, K.G.; Geerk, J.; Linker, G.; Meyer, O.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Kernphysik (IAK)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1975
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230008886
Erscheinungsvermerk Internat. Conference on Ion Beam Surface Layer Analysis, Karlsruhe, September 15-19, 1975
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