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Der Einfluss der Reaktionsparameter kommerzieller Nb₃Sn-Vielkernleiter auf Stromtragfaehigkeit, Reaktionsschichtdicke und Kornstruktur

Schelb, W.; Schauer, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1978
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 230011727
Erscheinungsvermerk Fruehjahrstagung DPG, Festkoerperphysik, Freudenstadt, 6.-10.Maerz 1978. Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, Bd 13(1978)
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