A quantitative monitor for beam intensity and polarization profiles

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Haeberli, W.; Henneck, R.; Jacquemart, Ch.; Lang, J.; Mueller, R.; Simonius, M.; Reichart, W.; Weddigen, Ch.

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Kernphysik (IK)
Publikationstyp	Vortrag
Jahr	1979
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230013035
Erscheinungsvermerk	Spring Meeting DPG,NNV,DFS,BNV-SBP, Nuclear Physics, Gent, Belgium, March 26-30, 1979. Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, Bd 14(1979)