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A quantitative monitor for beam intensity and polarization profiles

Haeberli, W.; Henneck, R.; Jacquemart, Ch.; Lang, J.; Mueller, R.; Simonius, M.; Reichart, W.; Weddigen, Ch.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Kernphysik (IK)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1979
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230013035
Erscheinungsvermerk Spring Meeting DPG,NNV,DFS,BNV-SBP, Nuclear Physics, Gent, Belgium, March 26-30, 1979. Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, Bd 14(1979)
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