A quantitative monitor for beam intensity and polarization profiles
Haeberli, W.; Henneck, R.; Jacquemart, Ch.; Lang, J.; Mueller, R.; Simonius, M.; Reichart, W.; Weddigen, Ch.
| Zugehörige Institution(en) am KIT |
Institut für Kernphysik (IK)
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| Publikationstyp |
Vortrag |
| Jahr |
1979 |
| Sprache |
Englisch |
| Identifikator |
KITopen ID: 230013035 |
| Erscheinungsvermerk |
Spring Meeting DPG,NNV,DFS,BNV-SBP, Nuclear Physics, Gent, Belgium, March 26-30, 1979. Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, Bd 14(1979) |
