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Measurement of oxygen depth profiles in thin layers and bulk materials

Haase, E.L.; Khubeis, I.G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Kernphysik (IAK)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1979
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230013239
Erscheinungsvermerk Ion Beam Analysis, 4.Internat.Conf., Univ.Aarhus, Daenemark, June 25-29, 1979
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