Measurement of oxygen depth profiles in thin layers and bulk materials

Haase, E. L.; Khubeis, I. G.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Kernphysik (IAK)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	1979
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230013239
Erscheinungsvermerk	Ion Beam Analysis, 4.Internat.Conf., Univ.Aarhus, Daenemark, June 25-29, 1979