The influence of secondary fluorescence from elements adjacent to the microbeam spot on local concentration determinations with PIXE
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Kernphysik (IAK) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1980 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230014370 |
| Erscheinungsvermerk | 2.Internat.Conference on Particle-Induced X-Ray Emission and its Analytical Applications, Lund, S, June 9-12, 1980 |