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The influence of secondary fluorescence from elements adjacent to the microbeam spot on local concentration determinations with PIXE

Heck, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Kernphysik (IAK)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1980
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230014370
Erscheinungsvermerk 2.Internat.Conference on Particle-Induced X-Ray Emission and its Analytical Applications, Lund, S, June 9-12, 1980
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