Software Loesungen fuer Probleme bei der Bildanalyse von REM-Bildern
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1980 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230015319 |
| Erscheinungsvermerk | 10.Kolloquium ueber Metallkundliche Analyse. Mikroanalyse, Oberflaechenanalyse und Spurenanalyse von Werkstoffen, Arbeitskreis Rasterelektronenmikroskopie, Wien, A, 3.-6.November 1980 |