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Software Loesungen fuer Probleme bei der Bildanalyse von REM-Bildern

Vollath, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1980
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 230015319
Erscheinungsvermerk 10.Kolloquium ueber Metallkundliche Analyse. Mikroanalyse, Oberflaechenanalyse und Spurenanalyse von Werkstoffen, Arbeitskreis Rasterelektronenmikroskopie, Wien, A, 3.-6.November 1980
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