Temperaturabhaengigkeit des EFG im Halbleiter CdSe

Appel, H.; Barfuss, H.; Boehnlein, G.; Hohenstein, H.; Kreische, W.; Niedrig, H.; Raudies, J.; Reimer, A.; Thies, W. G.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Genetik und für Toxikologie von Spaltstoffen (IGT)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	1981
Sprache	Deutsch
Identifikator	KITopen-ID: 230015521
Erscheinungsvermerk	Fruehjahrstagung DPG, Festkoerperphysik, Muenster, 9.-14.Maerz 1981. Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, Bd.16(1981)