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MUF-residuals tested by a sequential test with power one

Sellinschegg, D.; Bicking, U.



Zugehörige Institution(en) am KIT Entwicklungsgruppe Kenmaterialsicherung (EKS)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1982
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230016999
Erscheinungsvermerk Internat.Symp.on Recent Advances in Nuclear Materials Safeguards, Wien, A, November 8-12, 1982 IAEA-SM-260/35
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