High resolution electron microscopy of high Tsub(c)Nb₃Ge films

Kitano, Y.; Wessicken, R.; Nissen, H. U.; Yin, D.; Schauer, W.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	1983
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230018460
Erscheinungsvermerk	Conf.on High Resolution Electron Microscopy in Solid State Chemistry, Shepparholmen, S, June 12-16, 1983