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High resolution electron microscopy of high Tsub(c)Nb₃Ge films

Kitano, Y.; Wessicken, R.; Nissen, H.U.; Yin, D.; Schauer, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1983
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230018460
Erscheinungsvermerk Conf.on High Resolution Electron Microscopy in Solid State Chemistry, Shepparholmen, S, June 12-16, 1983
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