Application of surface analytical techniques in the field of nuclear technology. X-ray and electron induced Auger processes for I₂ adsorption on uranium
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Radiochemie (IRCH) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1983 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230019018 |
| Erscheinungsvermerk | SCADEG-AMSEL Konf. 'Anwendung der Mikro- und Spurenanalyse von Oberflaechen in der Werkstoff- und Umweltforschung', De Eemhof, NL, 3.-6.Mai 1983 |