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Application of surface analytical techniques in the field of nuclear technology. X-ray and electron induced Auger processes for I₂ adsorption on uranium

Dillard, J.G.; Moers, H.; Klewe-Nebenius, H.; Kirch, G.; Pfennig, G.; Ache, H.J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Radiochemie (IRCH)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1983
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230019018
Erscheinungsvermerk SCADEG-AMSEL Konf. 'Anwendung der Mikro- und Spurenanalyse von Oberflaechen in der Werkstoff- und Umweltforschung', De Eemhof, NL, 3.-6.Mai 1983
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