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Actual fading characteristic of LiF and Li₂B₄O₇ TLD-systems dependent on the ambient temperature, the monitoring period and the intervall between irradiation and readout

Burgkhardt, B.; Piesch, E.



Zugehörige Institution(en) am KIT Hauptabteilung Sicherheit (HS)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1983
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230019291
Erscheinungsvermerk 7th Internat.Conf.on Solid State Dosimetry, Ottawa, CDN, September 27-30, 1983
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