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Strain measurement by computerized image analysis

Piel, D.; Petersen, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1985
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230021704
Erscheinungsvermerk Workshop on High Temperature Strain Measurements, Petten, NL, May 7-8, 1985
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