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XPS-Tiefenprofile von HAW-Simulat-Komponenten in ausgelaugten Glasproben

Pfennig, G.; Klewe-Nebenius, H.; Moers, H.; Kaufmann, R.; Ache, H.J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Radiochemie (IRCH)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1986
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 230023432
Erscheinungsvermerk Vortragstagung der GDCh, Fachgruppe Nuklearchemie, Regensburg, 29.September - 2.Oktober 1986
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