XPS-Tiefenprofile von HAW-Simulat-Komponenten in ausgelaugten Glasproben

Pfennig, G.; Klewe-Nebenius, H.; Moers, H.; Kaufmann, R.; Ache, H. J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Radiochemie (IRCH)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	1986
Sprache	Deutsch
Identifikator	KITopen-ID: 230023432
Erscheinungsvermerk	Vortragstagung der GDCh, Fachgruppe Nuklearchemie, Regensburg, 29.September - 2.Oktober 1986