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ARXPS-Messungen von Si-SiO

Darlinski, A.; Halbritter, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Kernphysik (IK)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1987
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 230023989
Erscheinungsvermerk Fruehjahrstagung DPG, Duenne Schichten, Dynamik und Statistische Physik, Halbleiterphysik, Magnetismus, Metallphysik, Tiefe Temperaturen, Muenster, 9.-13.Maerz 1987 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, Bd.22 (1987) HL-37.6
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